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潛心于光電器件電耐腐蝕性測試方法

PL系列窄脈沖電流源測試原理及LIV測試框圖

由來:admin 事件:2020-10-09 09:52 閱讀量:2884

普賽斯PL 國產窄智能直流電源可用于 VCSEL 和其它都要窄脈寬獎勵激勵的測量情境。

PL 一系列設施設備有倆個車道:

① 、恒流脈寬團隊激勵源,并能云同步衡量待測元器件的兩端電流值;

② 、智能直流電校正緩沖區,比較可用到于選取外置PD 的手段校正智能光電功率;

PL 型號生產設備能模擬輸出以內多少種弧形:弧形的大幅度、步進電機控制值、智能總數等均可程控。

① 、直流電壓恒流;

② 、交流電打印機掃描瞬時電流;

③ 、激光脈沖直流電感應電流;

④ 、脈沖激光閱讀電壓;

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選用普賽斯PL 全品類窄脈沖造成的LIV自測操作機系統通過自測框圖下述:主要的有 PL 全品類機器、上用連接方式線、自測板、積份球、待測皮秒繳光器、光考慮 PD 分解成。 VCSEL 皮秒繳光器大部分打印輸出光公率挺大,而 PD 的考慮公率較小,要選用積份器通過光公率的衰減,而且積份球的射線特征參數使皮秒繳光器操作機系統對皮秒繳光器光入射角并并非如此特別敏感。

裝置輸入內容輸出有下述多少表現:LD+ 、 LD- 、 S+ 、 S- 、 PD+ 、 PD- ,但其中 LD+ 、 LD- 為恒流源輸入內容輸出表揚表現, S+ 、 S- 為待測集成電路芯片電壓降校正表現, PD+ 、 PD- 為外置 PD 校正表現。

為保持信息輸送水平,PL 全系列機械想要應用普賽斯定做的特殊化連到線,同時從測試英文板到待測電子元元器要否則降低連線,好直接性將電子元元器手工焊接于測試英文板上或應用 socket 。

為可以保障待測電子元件工作電壓測量方法的準確的性,S+ 、 S- 都要在待測電子元件引腳部短接至 LD+ 、 LD- ,請更要將 S+ 、 S- 連到至待測電子元件引腳部,不應一直在試驗板上自由短接。

 

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