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認準于半導體技術電耐熱性各種測試

國產數字源表(SMU)和探針臺測試應用案例

主要來源:admin 時期:2024-03-06 13:16 訪問量:3184

1、MPD晶圓測試

測試設備:脈沖造成的源表P300+檢測器臺

異常現象:測試中存在一個3nA左右的漏電流

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圖:十分試驗的趨勢圖

異常原因:測試現場的連接線屏蔽層接地不達標,外界電磁環境的作用下使設備對大地的電位發生變化,造成設備工作不穩定

優化措施:將屏蔽層接地

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圖:網站優化后自測折線圖


2、三極管測試

測試設備:2臺電流源表S300+檢測器臺

異常現象:源表輸出0-3V的電壓掃描,當輸出的電壓小于0.5V時,源表回讀的電壓值為-0.5V

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圖:出錯各種測試成果

失常原因:探頭臺就沒有接地保護,探頭臺結構類型上會出現不銹鋼,在通電的的生態中會會出現除靜電,若想對檢測結果造成直接影響

優化調整舉措:將檢測器臺使用電纜連通天地

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圖:seo后公測結局

3、芯片測試

測試設備:電流源表S300+檢測器臺

異常現象:源表未輸入輸出,檢測器冒愛情火花

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圖:系統異常測式-測試探針冒火苗

異常原因三同定位軸線纜GUARD移動走勢傾斜。GUARD移動走勢如相連正常,其電勢與移動走勢層常規相符,之所以漏電尚小,進而對移動走勢促使一個多定的保護區的功效;可GUARD移動走勢傾斜,其與移動走勢層的電勢差更大,這個漏電更大,對移動走勢的危害極大

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優化措施:將GUARD警報連結源表,使GUARD警報帶來保護的功效

4、PD測試

測試設備:直流源表S300+探針臺

異常現象:源表在100nA的量程下,輸出-2V電壓,實際顯示-2.69V

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圖:失敗測試圖片成果

異常原因:客戶使用的同軸線接觸不良,探針臺沒有接地

優化措施:更換新的同軸線,將探針臺通過導線接入大地


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圖:優化網絡后檢查后果

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